MiniSAXS搭載高亮度微焦斑光源與高靈敏度探測(cè)器，可準(zhǔn)確解析材料在納米尺度上的結(jié)構(gòu)特性。一體化設(shè)計(jì)摒棄復(fù)雜的光路調(diào)節(jié)，專為實(shí)驗(yàn)室用戶定制，以緊湊便攜的設(shè)計(jì)打破空間限制。

技術(shù)參數(shù)：

功能：WAXS、SAXS、GIWAXS、GISAXS

光源靶材：微焦斑光源靶材可選Cu、Mo、Ag等

準(zhǔn)直光路：準(zhǔn)直pinhole系統(tǒng)配套濾波單元

樣品臺(tái)：標(biāo)準(zhǔn)三軸樣品臺(tái)：16位粉末樣品架，16位固體樣品架、多維度掠入射與旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)

探測(cè)器：二維硅陣列單光子計(jì)數(shù)探測(cè)器

樣品與探測(cè)器距離：SD范圍 40 mm - 350 mm

散射矢量：6.3 nm-1 - 0.063 nm-1

表征尺度：1 nm - 100 nm

儀器規(guī)格：840 mm×750 mm×700 mm

電源：AC220 V，50 Hz（單相）

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

◆  光源系統(tǒng)

可選配Cu、Mo、Ag等靶材光源，滿足大部分實(shí)驗(yàn)室測(cè)試需求。  

◆  探測(cè)系統(tǒng)

搭載混合光子計(jì)數(shù) (HPC)探測(cè)器，有效地捕捉散射信號(hào)，為散射數(shù)據(jù)提供高角度分辨率。   

◆  樣品臺(tái)系統(tǒng)

標(biāo)準(zhǔn) XYZ 三軸樣品臺(tái)與多孔位粉末固體樣品架結(jié)合，滿足多種樣品類型測(cè)試需求的同時(shí)提高測(cè)試效率。掠入射裝置和旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)，幫助深入研究樣品表面及界面納米結(jié)構(gòu)特性。