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      BeNano Zeta 電位分析儀

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      BeNano Zeta 電位分析儀 核心參數(shù)
      粒徑范圍 2nm-120μm(Zeta測試范圍) 測量分辨率 2.5-3倍粒徑
      重復(fù)性 ≤1% 分散方式 手動分散

      產(chǎn)品特點(diǎn)

      BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個電場,通過激光照射到電場中的樣品上,光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運(yùn)動造成的散射光的多普勒頻移,進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。

      詳細(xì)介紹

      產(chǎn)品介紹

      BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個電場,通過激光照射到電場中的樣品上,光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運(yùn)動造成的散射光的多普勒頻移,進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。


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      基本性能指標(biāo)

      Zata電位測試

        原理

        相位分析光散射技術(shù)

        檢測角度

        12°

        Zeta范圍

        無實(shí)際限制

        電泳遷移率范圍

        > ±20 μm.cm/V.s

        電導(dǎo)率范圍

        0-260 mS/cm

        Zeta測試粒徑范圍

        2 nm – 120 μm

        樣品量

        0.75 mL – 1.0 mL

      趨勢測試

        時間和溫度

      系統(tǒng)參數(shù)

        溫控范圍

        -15℃-110℃,精度±0.1℃

        冷凝控制

       干燥空氣或者氮?dú)?br>

       標(biāo)準(zhǔn)激光光源

       50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

      相關(guān)器

       ≤ 4000通道,1011動態(tài)線性范圍

       檢測器

        APD (高性能雪崩光電二極管)

        光強(qiáng)控制

        0.0001%  - 100%,手動或者自動

      軟件

         中文和英文

      ?符合21CFR Part 11



      檢測參數(shù)

      ●Zeta 電位

      ●Zeta 電位分布


      檢測技術(shù)

      ●電泳光散射

      ●相位分析光散射


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