J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)是LA-ICP-MS技術(shù)向高精度、高準(zhǔn)確度、高靈敏度水平發(fā)展的重大突破，為了準(zhǔn)確定量的分析元素和同位素，需要高精度的、與測量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，ICP源的顆粒能完全被消解，產(chǎn)生穩(wěn)健、恒定的瞬時(shí)ICP-MS信號(hào)。用戶可完全依靠J200系統(tǒng)輸送高質(zhì)量的樣品顆粒到ICP-MS 系統(tǒng)，在LA-ICP-MS測量過程中引起元素或同位素分餾的兩大主要過程：（1）非化學(xué)計(jì)量物質(zhì)剝蝕的熱過程；（2）大樣品顆粒在ICP源不完全消解。

技術(shù)參數(shù)：

1、設(shè)備重量：600 lbs [272Kg](僅LA主機(jī))；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS檢測器)；

2、LIBS檢測器：Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器(僅適用于Tandem系統(tǒng))；

3、自動(dòng)X-Y軸：100mm X 100mm行程范圍，分辨率0.2微米；

4、激光光閘：自動(dòng)光閘保證激光能量穩(wěn)定。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

1、與測量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)；

2、J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下

3、剝蝕的顆粒能真實(shí)地代表樣品的化學(xué)特性；

4、J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高，且沒有熱效應(yīng)。

J200飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統(tǒng)有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗(yàn)和LA-ICP-MS方法的研究背景，易瀏覽不同的樣品區(qū)域，設(shè)立靈活的采樣方式，用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機(jī)點(diǎn)、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式，具備智能輸送和補(bǔ)充氣控制功能，使每種氣體按預(yù)定的方式達(dá)到設(shè)定值，同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài)，防止等離子體火焰噴出。預(yù)設(shè)閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。