Aeris 高容量樣品進(jìn)樣器（HCSC）配備超過60個(gè)樣品位，可實(shí)現(xiàn)全天候的自動(dòng)化分析，甚至是夜間分析。

1.使用的便利性： 全新的全譜解析算法，可實(shí)現(xiàn)多材料寬元素范圍圖譜的全自動(dòng)解析而無需人工干預(yù)，有效提升無標(biāo)定量和復(fù)雜應(yīng)用的分析結(jié)果可靠性； 2.維護(hù)的可靠性： 無漂移設(shè)計(jì)，內(nèi)置多...

DDCOM 用于超快速晶體取向測量 用于晶體取向測量的臺(tái)式 X射線衍射儀 (DDCOM) 是一種用于自動(dòng)測定各種晶體取向的工具。

用于晶體取向測量的 SDCOM 小型衍射儀 用于單晶（晶錠和晶圓）的材料研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制的臺(tái)式XRD設(shè)備。 Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiN...

Wafer XRD用于全自動(dòng)晶圓揀選、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。

Omega/Theta XRD為測定晶面取向提供了卓越的綜合精度和速度。Omega/Theta XRD可在短短10 秒內(nèi)返回結(jié)果，具有從條形碼閱讀器到晶體堆疊支架的許多工藝附件，可容納重量達(dá) 30kg...

XRD 系列 晶圓和鑄錠快速準(zhǔn)確的晶向定位 從全自動(dòng)的在線分析到晶圓材料的快速質(zhì)量檢查,我們的晶向定位解決方案在設(shè)計(jì)時(shí)考慮到了晶棒、鑄錠、切片和晶圓的全部應(yīng)用場景。此系列產(chǎn)品利用XRD分析...

極大程度減少更換樣品時(shí)所需的時(shí)間，提高系統(tǒng)利用率;在不影響數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下更高效的分析樣品;在一個(gè)樣品盤商，可以應(yīng)用不同的測試方法，如粒徑、電位、MADLS、濃度等。

馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+在廣受贊譽(yù)的 MS3000硬件平臺(tái)上，進(jìn)一步優(yōu)化性能，增加了多項(xiàng)智能輔助功能，讓設(shè)備更易用，結(jié)果的確信度更高。

新一代 NanoSight Pro 的推出，馬爾文帕納科為納米和生物材料的表征提供了簡單且快速的 NTA 解決方案。 先進(jìn)的工程設(shè)計(jì)和眾多智能功能的組合確保了 NTA 測量高效、快速。NS Xplo...

機(jī)器穩(wěn)健可靠 高處理量 可重復(fù)的結(jié)果 機(jī)器易于集成、安裝和使用

專利的光柵耦合干涉（Grating-Coupled Interferometry，GCI）技術(shù)，賦予WAVE系統(tǒng)超越傳統(tǒng)SPR技術(shù)的檢測靈敏度和時(shí)間分辨率。不同于SPR技術(shù)，Creoptix WAVE...

為更好的適應(yīng)國六燃油標(biāo)準(zhǔn)中，較低濃度的硫氯檢測需求，馬爾文帕納科Z新推出的Epsilon1 國六燃油版硫氯分析儀，內(nèi)置出廠校準(zhǔn)的硫氯分析標(biāo)準(zhǔn)，使該儀器即使在不使用氦氣的情況下，硫氯測量結(jié)果都可以滿足國...

2830 ZT 波長色散 X 射線熒光 （WDXRF） 圓晶分析儀提供了用于測量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 圓晶分析儀專門針對(duì)半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)而設(shè)計(jì)，該儀器可為多種晶片（厚達(dá) 300 ...

直接洞悉您的生產(chǎn)過程 通過使用 Epsilon Xflow 進(jìn)行在線液體分析，可以快速準(zhǔn)確地控制過程參數(shù)。 增強(qiáng)的法規(guī)和質(zhì)量規(guī)范推動(dòng)對(duì)持續(xù)工藝流程的需求。 Epsilon Xflow 提供的實(shí)時(shí)洞察...